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数电实验报告

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《数字电子技术》
实验报告




名: ***
级: ****888 号: 2014*******8
指导老师: ****
文档


编制时间: 2016.06.10

北京联合大学
实验一 基本集成逻辑门电路功能分析
一、实验目的
1.理解TTLCMOS普通门电路的参数含义。 2.掌握TTLCMOS普通门电路的使用方法。 3.掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。 4.理解TTLCMOS普通门电路参数的一般分析方法。 二、实验元器件
双四输入与非门 74LS00×1 六反相器 74LS04×1 电阻 300Ω×1 三、实验内容
(一) TTL双四输入与非门74LS00功能分析
1)逻辑功能分析
文档


参考图1.1连接电路。一只74LS00芯片中含有四个相同的2入与非门,可以随意选用,此处选用的是第一个门电路。检查电路无误时方可通电。
VCC
5VJ2Key = A
U1A
J1
Key = B
7400N+- 0.000U2AVDC 1MOhm

1.1 与非门逻辑功能测试电路
变换单刀双掷开关J1J2的状态,用直流电压表测试电路的输出电压,将测试结果记入表1.1中。
1.1 输入
输出
U1/V 0 0 5 5 U2/V 0 5 0 5 文档实测值 5 5 5 0
逻辑值 5 5 5 0
2)电压传输特性分析
依照图1.3编辑电路。在05V间逐步调整输入的直流电压,将随之变化的输出电压记入表1.2中。
U1A
V2
1.8 V
7400N+-VSS 5.000
U2VDC 1MOhm
0V

1.3 分析与非门电压传输特性仿真电路
1.2 UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V 5.0 4.8 4.6 4.4 4.2 4.0
文档0 0 0 0 0 0 3.8 3.6 3.4 3.2 3.0 2.8 0 0 0 0 0 0 2.6 2.4 2.2 2.0 1.8 1.6 0 5 5 5 5 5 1.4 1.2 1.0 0.8 0.4 0 5 5 5 5 5 5



实验二 组合逻辑电路分析与设计
一、实验目的
1.掌握SSI组合电路的基本设计方法。 2.掌握SSI组合电路的基本分析方法。 3.了解排除组合电路故障的一般方法。 二、实验元器件
四异或门 74LS86×1 双四输入与非门 74LS00×1 六反相器 74LS04×1 电阻 300Ω×4 发光二极管 4 三、实验内容
(一) 分析“三个开关控制一盏灯”电路
根据图2.1所示的引脚接线图连接实验电路。74LS86中有四个异文档

或门,此处可随意选用其中的两个。为了便于连接实验电路,降低接线的错误率,图中标注了被选中门电路和芯片电源VCC、地线GND引脚编号。发光二极管的导通压降一般有1.52V,导通电流可高于10mA考虑到门电路的带载能力,在门电路与发光二极管间串入了一300欧电阻,用于限压限流。

2.1 “三个开关控制一盏灯”实验电路
转换开关ABC的位置,借助发光二极管的明暗状态,可以检测电路的逻辑功能。将测试结果记入自备的表格中。
A
B
C
二极管
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(二) 设计交通灯工作状态监视电路
路口由红、绿、黄三种颜色的交通灯指示车辆“停止”“直行”“缓行”三种行车状态。正常情况下,任何时刻有一盏灯点亮,且只允许有一盏灯被点亮,否则被认为交通灯系统发生故障。一旦交通灯系统发生故障,要求点亮“交通灯工作状态监视”电路的报警灯。

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(三)设计多数表决电路
此多数表决的电路可供三人使用。当三人中的大多数对被表决事件表示同意时,多数表决电路的指示灯被点亮。请分别仅用与非门、或非门实现。



实验三 算术运算电路
加法器 一、实验目的
1.掌握1位全加器的工作原理,理解多位加法器的组成结构。 2.掌握加法器的基本分析方法。
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3.理解MSIMedium Scale Integration)加法器的基本使用方法。
4. 了解排除加法运算电路故障的一般方法。 二、实验元器件
四异或门 74LS86×2 2输入与非门 74LS00×1 电阻 300Ω×4 发光二极管 4 三、实验内容 (一)1位全加器功能分析
Multisim7中仿照图3.1连接电路。改变开关ABC的状态,检测1位全加器的逻辑功能,将分析结果记入表3.1中。

3.1 1位全加器功能分析
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3.1
A 0 0 0 0 1 1 1 1 比较器 一、实验目的
B 0 0 1 1 0 0 1 1 C 0 1 0 1 0 1 0 1 Si
Ci
1掌握1位全比较器的工作原理,理解多位比较器的组成结构。 2.掌握比较器的基本分析方法。 3.理解MSI比较器的基本使用方法。 4. 了解排除比较运算电路故障的一般方法。 二、实验内容
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(一)1位全比较器分析
Multisim7中仿照图3.2连接电路。检测1位全比较器的逻辑功能,将分析结果记入表3.2中。

3.2 1位全比较器功能分析仿真电路
3.2
Ai 0 0 1 1 Bi 0 1 0 1 Y1(Ai>Bi

Y2(Ai

Y3(Ai=Bi

3.3 4位比较器CC4585的基本应用仿真电路
实验四 译码电路
一、实验目的
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1.掌握地址译码器的基本功能和基本分析方法。 2.了解排除地址译码电路故障的一般方法。 二、实验元器件
3线-8线译码器 74LS138×1 双四选一数据选择器 74LS153×1 双四输入与非门 74LS20×1 六反相器 74LS04×1 电阻 300Ω×8 发光二极管 8 三、实验内容
274LS138译码器的应用
74LS138译码器实现逻辑函数ZBACB自拟实验方案,录实验结果。要求列出设计真值表,先使用Multisim7画出仿真电路,再搭建实际电路。
真值表
A 0 B 0 C 0 二极管
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0 0 0 1 1 1 1
0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 0 1 0 1

(一) 74LS15341数据选择器的应用
174LS153译码器功能分析
仿照图4.3连接实验电路。注意,接线时74LS153中的两个译码器共用一组地址端口,然而它们各有自己的选通端口1G2G。依文档

照表4.1所示74LS153功能表,用发光二极管检测电路的逻辑功能,将分析结果记入自备的表格中。

4.3 74LS153数据选择器功能分析电路

4.1 74LS153数据选择器真值表
输入
G
输出
B × 0 0 1 A × 0 1 0 Y 0 1 0 0 0 C0 C1 C2
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0 1

1 C3
274LS153译码器的应用
74LS153译码器实现逻辑函数ZBACB自拟实验方案,录实验结果。要求列出设计真值表,先使用Multisim7画出仿真电路,再搭建实际电路。
真值表
A 0 0 1 1 B 0 1 0 1
二极管
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实验五 常用集成触发器及其应用
触发器能够记忆1位二值信号,是组成数字时序电路的基本逻辑部件。在运用各种触发器和门电路构成时序电路前,需了解触发器的基本逻辑功能和使用方法。
一、实验目的
1.掌握普通D触发器的基本功能和触发方式。 2.理解普通触发器的一般分析方法。 3.理解集成触发器的基本使用方法。 二、实验元器件
双边沿型D触发器 74LS74×1 三、实验内容
(一)基本RS触发器功能分析(Multisim7仿真)
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TTL元件库中调出四2输入或非门74LS02构成图5.1所示的基本RS触发电路。控制单刀双掷开关RS,使触发电路的输入信号RDSD依次取值00 01 00 10 11 00观察并记录实验结果于表5.1中。

5.1 基本RS触发器功能分析

5.1 序号 0 1 2 3 RD
0 0 1 1 SD
0 1 0 1 Q
Q

功能简述


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实验六
计数电路
实验内容
(一)4位二进制加法计数器74LS163的基本功能分析
仿照图6.1连接实验电路。改变开关PT的状态,用发光二极管分析74LS163的计数规则。

6.1 74LS163功能分析电路
(二)4位二进制加法计数器74LS163的应用
1参考图6.2用反馈归零法将74LS163改为八进制计数电路。
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2参考图6.3用反馈置数法将74LS163改为八进制计数电路。



总结:通过这一个学期数电学习,加深了我对这门课程的了解与掌握,同时也提高了动手实践能力。使我对这科目越来越感兴趣。
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