数电实验报告
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《数字电子技术》实验报告姓 名: ***
班 级: ****888 学 号: 2014*******8
指导老师: ****
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编制时间: 2016.06.10
北京联合大学
实验一 基本集成逻辑门电路功能分析
一、实验目的
1.理解TTL和CMOS普通门电路的参数含义。 2.掌握TTL和CMOS普通门电路的使用方法。 3.掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。 4.理解TTL和CMOS普通门电路参数的一般分析方法。 二、实验元器件
双四输入与非门 74LS00×1片 六反相器 74LS04×1片 电阻 300Ω×1只 三、实验内容
(一) TTL双四输入与非门74LS00功能分析
(1)逻辑功能分析
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参考图1.1连接电路。一只74LS00芯片中含有四个相同的2输入与非门,可以随意选用,此处选用的是第一个门电路。检查电路无误时方可通电。
VCC5VJ2Key = AU1AJ1Key = B7400N+- 0.000U2AVDC 1MOhm
图1.1 与非门逻辑功能测试电路
变换单刀双掷开关J1和J2的状态,用直流电压表测试电路的输出电压,将测试结果记入表1.1中。
表1.1 输入
输出
U1/V 0 0 5 5 U2/V 0 5 0 5 文档实测值 5 5 5 0
逻辑值 5 5 5 0
(2)电压传输特性分析
依照图1.3编辑电路。在0~5V间逐步调整输入的直流电压,将随之变化的输出电压记入表1.2中。
U1AV21.8 V 7400N+-VSS 5.000U2VDC 1MOhm0V
图1.3 分析与非门电压传输特性仿真电路
表1.2 UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V UI/V UO/V 5.0 4.8 4.6 4.4 4.2 4.0
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