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半导体设备,原材料制造商大全
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半导体设备制造商--检测、测量和测试
度量设备
汉民科技股份有限公司上海代表处（代理）AccentOpticalTechnologies
美国ADE公司上海代表处ADECorp.应用材料（中国）有限公司AppliedMaterials
benchmarkBenchmarkTechnologies
FEI香港有限公司上海代表处FEI
HORIBA,LtdHORIBA,Ltd美国科天中国公司KLA_Tencor
莱卡仪器上海有限公司上海代表处LeicaMicrosystems,Inc
ShanghaiBetterLifeElectronic
上海生优电子有限公司
(SBLECo.
SolidStateMeasurements,Inc.SolidStateMeasurements,Inc.
thermawaveTherma-WaveInc.
东电电子（上海）有限公司TokyoElectron美国维易科精密仪器有限公司上海代表处VeecoInstrumentsInc.
ZMCTechnologiesPte.Ltd.ZMCTechnologiesPte.Ltd.
Zygo中国代表处ZygoCorporation苏斯贸易（上海）有限公司SUSSMicroTecAG
分析设备
美国光普物理公司苏瑞电子材料有限公司江苏长电科技股份有限公司
京东方科技集团CamtekLtd.
VeriSiliconHoldingsCo.,Ltd.，芯原股
份有限公司Gartner
INFICON广州办事处吉时利仪器公司上海办事处
HORIBA,Ltd
HitachiHighTechnologiesFEI香港有限公司上海代表处
哈希超纯分析
豪勉国际贸易（上海）有限公司
法国亚义赛公司
Spectra-Physics
INFICON
KeithleyInstruments,Inc
HORIBA,Ltd
HitachiHighTechnologies
FEI
HachUltraAnalytics
Hauman
International(ShanghaiCo.,Ltd
CamecaInstruments,Inc.
科利登系统（上海）有限公司CredenceSystemsCorporation
膜厚/厚度测量/椭偏仪
DymekAsiaCompanyCamecaInstruments,Inc.CreativeInspectionSystem
元中光学仪器国际贸易（上海）有限公司
Ltd-C.I.S
美国ADE公司上海代表处ADECorp.
汉民科技股份有限公司上海代表处（代理）AccentOpticalTechnologies
HORIBA,LtdHORIBA,Ltd
莱卡仪器上海有限公司上海代表处LeicaMicrosystems,Inc牛津仪器有限公司上海代表处OxfordInstruments美国耐诺公司上海代表处NanometricsInc上海泽尔尼仪器有限公司
安集微电子
DainipponScreenManufacturingCo.,Ltd
（大日本网屏）AIXTRON爱思强华尔莱科技（Valor）CascadeMicrotech
DymekAsiaCompany法国亚义赛公司
缺陷/颗粒检测设备
莱特浩斯国际股份有限公司
美国科天中国公司尔必达(ElpidaCypress赛普拉斯康耐视公司cognex
汉民科技股份有限公司上海代表处(代理
HORIBA,Ltd
应用材料（中国）有限公司FEI香港有限公司上海代表处
LighthouseKLA_Tencor
HermesMicrovisionInc.
HORIBA,LtdAppliedMaterials
FEI
失效分析系统
FEI香港有限公司上海代表处科利登系统（上海）有限公司豪勉国际贸易（上海）有限公司巴斯夫电子材料AxcelisTechnologies
AdvancedEnergyIndustriesInc.牛津仪器有限公司上海代表处苏斯贸易（上海）有限公司
FEI
CredenceSystemsCorporation
Hauman
International(ShanghaiCo.,Ltd
OxfordInstrumentsSUSSMicroTecAG
显微镜